| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(434200) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 5196 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4548 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 4092 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3592 |
1.1测试的含义 |
/ | 3841 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3534 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3396 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3291 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4589 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4730 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4778 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4523 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5743 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4308 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 4103 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3567 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3490 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3333 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3317 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3381 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4484 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4681 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4664 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4514 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5272 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3852 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3455 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3301 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3385 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3239 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3151 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 3120 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4602 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4547 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4451 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4440 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 4122 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3591 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3497 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3331 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3247 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3131 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 3098 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3124 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3074 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3010 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2959 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2928 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2905 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2953 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4431 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4470 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4338 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4277 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4165 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 4156 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4261 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3968 |
|
5.1电桥 |
/ | 3268 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3534 |
|
5.3滤波器 |
/ | 3051 |
|
5.4AD转换 |
/ | 3146 |
|
5.1电桥 |
/ | 3019 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2956 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2980 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2885 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 4032 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4224 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4208 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 4107 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3464 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3154 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 3093 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 3105 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3021 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2866 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2813 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2799 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4212 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 4094 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3994 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2977 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2893 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2820 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2831 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2766 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2760 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2737 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2753 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2698 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2661 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2700 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2674 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2680 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2653 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4286 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3936 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3619 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3667 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3470 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3457 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3250 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3196 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3343 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 4019 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3971 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3928 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3944 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3862 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3856 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4354 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4395 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4392 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4537 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4294 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4274 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3328 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3323 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3325 |