| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(368561) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4399 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 3693 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3531 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3070 |
1.1测试的含义 |
/ | 3333 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3007 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 2897 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 2809 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 3969 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4099 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4128 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 3898 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 4925 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3523 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3468 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3048 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 2967 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 2828 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 2826 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 2903 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 3862 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4047 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4024 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 3887 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 4548 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3301 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 2938 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 2809 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 2870 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 2739 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 2679 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2650 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 3979 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 3912 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 3825 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 3831 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3494 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3060 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2940 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2845 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2761 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2663 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2629 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2657 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2617 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2550 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2517 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2486 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2468 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2510 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 3796 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 3836 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 3732 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 3683 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3580 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3560 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 3682 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3405 |
|
5.1电桥 |
/ | 2776 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2997 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2591 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2601 |
|
5.1电桥 |
/ | 2558 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2486 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2532 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2439 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3460 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 3626 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 3608 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3522 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2960 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2667 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2614 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2618 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2499 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2415 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2375 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2355 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 3591 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3499 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3405 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2500 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2427 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2373 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2356 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2315 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2310 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2295 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2305 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2256 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2229 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2256 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2238 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2246 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2219 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 3686 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3333 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3059 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3100 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 2912 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 2918 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 2728 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 2678 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 2807 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3370 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3335 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3294 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3313 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3238 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3239 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 3663 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 3699 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 3695 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 3810 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 3613 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 3582 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 2758 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2759 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 2760 |