| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(419841) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4918 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4320 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3946 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3468 |
1.1测试的含义 |
/ | 3717 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3404 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3275 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3179 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4432 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4565 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4609 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4364 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5524 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4155 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3896 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3452 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3363 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3216 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3206 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3276 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4330 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4529 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4509 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4362 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5118 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3729 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3343 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3196 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3277 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3134 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3055 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 3029 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4453 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4388 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4297 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4293 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3985 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3483 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3394 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3236 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3150 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3040 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 3010 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3036 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2982 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2922 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2877 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2845 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2825 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2870 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4279 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4320 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4200 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4144 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4037 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 4004 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4134 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3841 |
|
5.1电桥 |
/ | 3165 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3435 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2964 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2979 |
|
5.1电桥 |
/ | 2930 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2865 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2897 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2803 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3897 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4075 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4064 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3967 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3369 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3059 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 3000 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 3011 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2930 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2776 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2730 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2716 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4052 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3954 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3860 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2885 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2806 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2735 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2739 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2678 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2675 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2654 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2669 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2614 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2583 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2614 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2593 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2601 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2572 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4151 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3804 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3499 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3549 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3353 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3343 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3138 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3084 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3229 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3889 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3841 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3801 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3817 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3740 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3738 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4200 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4239 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4237 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4384 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4144 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4124 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3230 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3224 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3226 |