| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(406325) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4798 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4214 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3838 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3360 |
1.1测试的含义 |
/ | 3612 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3298 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3169 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3071 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4320 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4450 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4498 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4251 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5399 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4042 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3785 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3347 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3255 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3111 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3100 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3171 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4219 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4417 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4401 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4253 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 4996 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3621 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3236 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3087 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3165 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3021 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 2950 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2917 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4343 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4278 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4186 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4184 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3876 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3374 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3286 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3127 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3045 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2933 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2904 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2929 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2878 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2812 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2773 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2740 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2721 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2765 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4169 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4211 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4093 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4038 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3932 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3900 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4027 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3734 |
|
5.1电桥 |
/ | 3058 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3326 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2857 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2869 |
|
5.1电桥 |
/ | 2826 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2760 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2790 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2698 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3791 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 3966 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 3958 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3861 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3252 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2953 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2886 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2902 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2825 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2672 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2625 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2611 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 3945 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3848 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3758 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2775 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2698 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2630 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2631 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2574 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2568 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2548 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2564 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2510 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2479 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2509 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2488 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2497 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2469 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4042 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3695 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3391 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3444 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3243 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3232 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3034 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 2976 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3118 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3735 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3690 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3648 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3665 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3588 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3586 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4050 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4088 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4082 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4233 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 3989 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 3970 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3071 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3074 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3074 |