| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(433765) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 5187 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4545 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 4090 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3589 |
1.1测试的含义 |
/ | 3838 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3532 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3393 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3287 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4585 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4726 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4776 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4520 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5739 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4304 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 4099 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3562 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3487 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3330 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3313 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3375 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4478 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4677 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4658 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4510 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5267 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3847 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3451 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3296 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3381 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3236 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3147 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 3116 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4596 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4543 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4448 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4437 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 4119 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3589 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3495 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3329 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3244 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3127 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 3095 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3122 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3071 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3005 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2955 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2924 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2901 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2949 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4427 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4466 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4335 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4273 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4161 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 4150 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4257 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3964 |
|
5.1电桥 |
/ | 3265 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3531 |
|
5.3滤波器 |
/ | 3049 |
|
5.4AD转换 |
/ | 3143 |
|
5.1电桥 |
/ | 3017 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2953 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2977 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2883 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 4028 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4221 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4206 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 4104 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3459 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3151 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 3089 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 3102 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3018 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2863 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2810 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2795 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4208 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 4091 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3990 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2972 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2889 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2816 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2828 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2762 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2757 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2735 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2750 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2696 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2659 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2697 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2671 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2678 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2650 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4282 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3932 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3614 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3663 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3466 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3453 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3246 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3191 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3339 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 4014 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3966 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3924 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3941 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3859 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3853 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4350 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4390 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4388 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4532 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4290 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4271 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3324 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3320 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3321 |