| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(385823) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4594 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4042 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3662 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3212 |
1.1测试的含义 |
/ | 3464 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3130 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3014 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 2923 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4147 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4277 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4316 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4079 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5193 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3798 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3629 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3186 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3097 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 2960 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 2953 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3025 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4042 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4233 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4218 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4077 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 4791 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3467 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3085 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 2938 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3014 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 2870 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 2804 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2770 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4164 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4092 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4010 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4007 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3684 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3216 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3126 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2977 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2894 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2781 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2745 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2775 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2732 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2665 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2626 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2594 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2576 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2615 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 3977 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4016 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 3911 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 3858 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3751 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3725 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 3848 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3564 |
|
5.1电桥 |
/ | 2898 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3160 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2702 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2717 |
|
5.1电桥 |
/ | 2670 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2604 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2641 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2550 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3624 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 3786 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 3780 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3684 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3085 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2787 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2731 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2729 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2641 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2519 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2480 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2459 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 3753 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3656 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3568 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2613 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2537 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2476 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2460 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2419 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2413 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2398 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2412 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2360 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2330 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2360 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2338 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2347 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2321 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 3840 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3489 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3201 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3255 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3058 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3056 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 2860 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 2809 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 2937 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3519 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3481 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3436 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3459 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3377 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3380 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 3830 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 3867 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 3860 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 3987 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 3778 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 3751 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 2881 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2882 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 2883 |