| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(433912) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 5189 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4546 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 4091 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3590 |
1.1测试的含义 |
/ | 3839 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3533 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3394 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3288 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4586 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4727 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4777 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4521 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5741 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4306 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 4100 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3564 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3488 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3330 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3315 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3378 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4479 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4678 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4659 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4511 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5269 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3849 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3452 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3299 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3382 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3237 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3150 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 3118 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4600 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4545 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4450 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4438 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 4120 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3589 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3496 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3329 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3245 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3127 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 3096 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3123 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3072 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3006 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2956 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2926 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2903 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2950 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4428 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4467 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4336 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4274 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4163 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 4151 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4259 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3965 |
|
5.1电桥 |
/ | 3266 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3532 |
|
5.3滤波器 |
/ | 3049 |
|
5.4AD转换 |
/ | 3145 |
|
5.1电桥 |
/ | 3018 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2955 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2978 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2883 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 4028 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4223 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4207 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 4105 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3460 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3152 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 3090 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 3102 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3020 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2864 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2811 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2796 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4210 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 4093 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3992 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2973 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2890 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2818 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2828 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2763 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2759 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2736 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2751 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2697 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2659 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2698 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2672 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2679 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2651 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4283 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3935 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3616 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3665 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3468 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3455 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3248 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3193 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3339 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 4015 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3967 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3925 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3941 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3859 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3853 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4352 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4392 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4389 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4533 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4291 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4272 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3325 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3321 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3322 |