| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(386154) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4596 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4050 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3664 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3214 |
1.1测试的含义 |
/ | 3467 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3133 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3017 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 2925 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4149 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4279 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4318 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4082 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5196 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3801 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3632 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3188 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3099 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 2962 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 2956 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3027 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4045 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4236 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4220 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4080 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 4794 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3469 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3088 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 2941 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3017 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 2872 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 2806 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2772 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4169 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4097 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4015 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4011 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3688 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3221 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3129 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2981 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2897 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2783 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2748 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2777 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2735 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2667 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2629 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2597 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2578 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2618 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 3979 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4019 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 3914 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 3861 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3753 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3727 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 3850 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3566 |
|
5.1电桥 |
/ | 2901 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3163 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2704 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2720 |
|
5.1电桥 |
/ | 2672 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2606 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2644 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2552 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3627 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 3790 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 3784 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3686 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3087 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2789 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2733 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2732 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2644 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2521 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2482 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2462 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 3755 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3658 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3570 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2616 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2539 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2478 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2463 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2421 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2415 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2401 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2414 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2362 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2332 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2363 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2340 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2350 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2323 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 3842 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3492 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3205 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3258 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3061 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3060 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 2863 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 2812 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 2940 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3522 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3485 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3439 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3462 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3381 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3383 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 3833 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 3871 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 3863 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 3990 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 3781 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 3756 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 2883 |
|
4.5物位检测 |
/ | 2884 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 2885 |