| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(409348) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4823 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4241 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3864 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3386 |
1.1测试的含义 |
/ | 3637 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3324 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3194 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3096 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4345 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4475 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4523 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4276 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5424 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4068 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3810 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3372 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3280 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3136 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3125 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3196 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4245 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4442 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4427 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4279 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5021 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3646 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3261 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3112 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3190 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3046 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 2976 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2942 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4368 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4304 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4211 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4209 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3901 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3400 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3311 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3152 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3070 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2958 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2929 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2955 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2904 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2837 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2799 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2766 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2747 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2791 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4194 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4236 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4118 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4063 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3959 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3925 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4053 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3759 |
|
5.1电桥 |
/ | 3083 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3351 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2882 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2894 |
|
5.1电桥 |
/ | 2851 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2785 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2815 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2723 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3816 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 3992 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 3983 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3887 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3277 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2979 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2911 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2927 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2850 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2698 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2650 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2636 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 3971 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3873 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3783 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2800 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2723 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2656 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2656 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2600 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2593 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2574 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2589 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2535 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2504 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2534 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2513 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2522 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2494 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4067 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3721 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3416 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3469 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3268 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3257 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3059 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3001 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3143 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3761 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3716 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3674 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3691 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3614 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3613 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4077 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4115 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4107 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4260 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4015 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 3996 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3097 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3100 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3100 |