| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(420186) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4920 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4324 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3948 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3470 |
1.1测试的含义 |
/ | 3719 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3406 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3277 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3181 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4434 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4567 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4612 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4366 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5526 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4157 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3898 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3455 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3366 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3218 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3210 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3278 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4333 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4532 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4512 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4365 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5120 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3731 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3347 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3198 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3279 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3136 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3057 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 3031 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4455 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4391 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4301 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4297 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3987 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3486 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3396 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3238 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3154 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3042 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 3013 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3038 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2985 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2924 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2880 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2848 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2828 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2873 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4282 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4323 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4204 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4148 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4042 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 4010 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4138 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3845 |
|
5.1电桥 |
/ | 3167 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3437 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2967 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2981 |
|
5.1电桥 |
/ | 2933 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2868 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2900 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2806 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3900 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4079 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4068 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3971 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3371 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3062 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 3002 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 3013 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2932 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2779 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2733 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2719 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4055 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3956 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3864 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2887 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2808 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2737 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2742 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2681 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2677 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2657 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2672 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2616 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2585 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2618 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2596 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2603 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2575 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4154 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3807 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3501 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3551 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3355 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3345 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3141 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3086 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3232 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3892 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3844 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3805 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3822 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3744 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3741 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4206 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4244 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4240 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4388 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4148 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4128 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3233 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3230 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3231 |